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明策科技自成立至今,始終致力于為先進(jìn)材料生產(chǎn)過(guò)程、環(huán)保材料檢測(cè)、計(jì)量校準(zhǔn)、高速運(yùn)動(dòng)研究等行業(yè)提供專業(yè)的測(cè)試解決方案,引進(jìn)先進(jìn)的儀器設(shè)備。方案涉及紅外測(cè)溫、高清成像、材料研究、標(biāo)定校準(zhǔn)、系統(tǒng)集成。原理涉及光學(xué)近、中、遠(yuǎn)紅外波段、可見(jiàn)光波段、太赫茲波段、激光波段等。

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上海光電測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格 歡迎咨詢 上海明策供應(yīng)

2025-08-21 04:05:31

INFRAMET DT 熱成像光電測(cè)試系統(tǒng)是用千實(shí)驗(yàn)室條件下對(duì)熱像儀各項(xiàng)性能檢測(cè)的設(shè)備。 如果需要的話DT設(shè)備還可以檢測(cè)TV/LLLTV成像,或者熱像儀和TV/LLLTV成像之間的光軸校正。 注:推薦用MS設(shè)備來(lái)檢測(cè)和校準(zhǔn)感應(yīng)器比較多的系統(tǒng)。

DT系列設(shè)備應(yīng)該是INFRAMET成熟的設(shè)備,這個(gè)已經(jīng)得到了來(lái)自全球各地客戶的寬泛認(rèn)可。中長(zhǎng)紅外光譜帶的敏感熱成像技術(shù)是項(xiàng)很重要的科研和**技術(shù),這些成像儀也取得了大規(guī)模的應(yīng)用。所以檢測(cè)這些熱成像儀對(duì)生產(chǎn)、維護(hù)和使用都有著不同的重要的作用。因此高科技的校準(zhǔn)和檢測(cè)對(duì)這些昂貴的熱像儀的生產(chǎn)、維護(hù)、培訓(xùn)、采購(gòu)優(yōu)化都有著重要的意義。 Inframet ST短波紅外相機(jī)測(cè)試系統(tǒng)賦能冶金,精確、測(cè)試助力材料創(chuàng)新。上海光電測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格

FUT靶標(biāo)為棋盤型靶標(biāo),采用大面積、均勻溫度的輻射源,經(jīng)表面加工后在高發(fā)射率背景下實(shí)現(xiàn)低發(fā)射率。FUT靶標(biāo)尺寸較大,能夠完全填充被測(cè)融合成像系統(tǒng)的視野。利用熱像儀和可見(jiàn)光/近紅外成像傳感器對(duì)FUT靶標(biāo)進(jìn)行圖像采集,為有效的圖像融合提供了必要的數(shù)據(jù)。FUT靶標(biāo)是一種均勻加熱的靶標(biāo),通常不能夠進(jìn)行調(diào)節(jié)高溫度。操作較為簡(jiǎn)單,插上電源加熱十幾分鐘穩(wěn)定后就可進(jìn)行使用。

測(cè)試功能:FUT靶標(biāo)可以用于以下測(cè)試:?對(duì)準(zhǔn)誤差(熱通道光軸相對(duì)于可見(jiàn)光通道光軸的角度)?旋轉(zhuǎn)誤差(熱通道圖像與可見(jiàn)通道圖像之間的角度)?熱成像通道圖像相對(duì)于可見(jiàn)成像通道圖像的二維空間位移圖(與另一通道中的同一像素相比,像素的位移量和位移方向的信息)?熱像儀分辨率測(cè)試 安徽光電測(cè)試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家明策精細(xì)光電技術(shù),保障光伏產(chǎn)業(yè)高效能測(cè)試。

ORI光學(xué)鏡頭測(cè)試系統(tǒng)是一臺(tái)通用型光學(xué)鏡頭測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以測(cè)量鏡頭的所有重要參數(shù):MTF,分辨率,EFL,畸變,漸暈,透過(guò)率,BFL,工作焦距,焦深,場(chǎng)曲,色差等??蓽y(cè)試波段涵蓋了VIS,NIR,SWIR,MWIR和LWIR,也可用于測(cè)試多波段光學(xué)系統(tǒng),列如VIS-SWIR和MWIR-LWIR。

ORI測(cè)試系統(tǒng)原理:目標(biāo)發(fā)生器放置在被測(cè)鏡頭的焦平面上形成一套投影系統(tǒng),透射出的平行光入射平行光管,蕞終成像到相機(jī)的接收面上。ORI測(cè)試系統(tǒng)蕞大的特點(diǎn)是采用逆光路測(cè)量原理,較一般正光路的測(cè)量系統(tǒng)具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。

可見(jiàn)光靶標(biāo)主要分為兩類:A)反射式靶標(biāo),B)透射式靶標(biāo)。反射式靶標(biāo)無(wú)法提供高精度的靶標(biāo)圖形因此只能用于可見(jiàn)光成像系統(tǒng)簡(jiǎn)單的評(píng)估測(cè)試。透射式靶標(biāo)的精度可以達(dá)到次微米級(jí),通常采用在干凈的玻璃基板上光刻的方法而得到。Inframet采用USAF 1951靶標(biāo),其具備很好的通用性,既支持低分辨率相機(jī)測(cè)試,也同時(shí)支持高分辨率相機(jī)測(cè)試。

產(chǎn)品參數(shù):

參數(shù):數(shù)值

圖案類型:3桿

圖案組數(shù):0到7(可選0-8)

空間頻率范圍:1-228lp/mm(可選1-456lp/mm)

對(duì)比度:百分之二到**

基板:鈉鈣玻璃(可選石英)

圖形鍍膜:鉻

靶標(biāo)板尺寸:23x23mm 應(yīng)用于通訊設(shè)備,SIMAT動(dòng)態(tài)目標(biāo)模擬器確保信號(hào)穩(wěn)定傳輸。

JT400軸對(duì)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)外觀圖Inframet設(shè)計(jì)生產(chǎn)的用于測(cè)試多傳感器監(jiān)控系統(tǒng)的MS系列測(cè)試系統(tǒng)不僅支持這些監(jiān)控系統(tǒng)的擴(kuò)展性測(cè)試,也支持軸對(duì)準(zhǔn)測(cè)試。然而,MS系列測(cè)試系統(tǒng)是相對(duì)昂貴的測(cè)試系統(tǒng)。JT多傳感器軸對(duì)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)是相對(duì)經(jīng)濟(jì)的系統(tǒng),用于**的軸對(duì)準(zhǔn)測(cè)試以及光電多傳感器監(jiān)控系統(tǒng)的基本參數(shù)測(cè)試。

測(cè)試功能:1.不同視場(chǎng)的熱像儀的軸對(duì)準(zhǔn);2.不同鏡頭焦距的可見(jiàn)光-近紅外相機(jī)的軸對(duì)準(zhǔn);3.可見(jiàn)光-近紅外相機(jī)與熱像儀之間的軸對(duì)準(zhǔn);4.激光測(cè)距機(jī)與可見(jiàn)光-近紅外相機(jī)之間的軸對(duì)準(zhǔn);5.激光測(cè)距機(jī)與熱像儀之間的軸對(duì)準(zhǔn);6.激光指示器與可見(jiàn)光/近紅外相機(jī)以及熱像儀之間的軸對(duì)準(zhǔn);7.可見(jiàn)光/近紅外相機(jī)的分辨率/靈敏度;8.熱像儀的分辨率;9.激光測(cè)距機(jī)的發(fā)散角;10.參考光軸與參考機(jī)械軸(平面)的對(duì)準(zhǔn)誤差。 光電技術(shù),應(yīng)用于教育領(lǐng)域,提升實(shí)驗(yàn)教學(xué)質(zhì)量。上海光電測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格

JT400多傳感器軸對(duì)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng),保障電子元件性能穩(wěn)定。上海光電測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格

靶標(biāo)是用于測(cè)試光電成像系統(tǒng)時(shí)創(chuàng)建參考圖像的模塊。Inframet提供的靶標(biāo)可分為兩類:1)無(wú)源靶標(biāo),2)有源靶標(biāo)。無(wú)源靶標(biāo)需要由黑體或標(biāo)定光源產(chǎn)生均勻光束照射,生成參考圖像模式的圖像。這些靶標(biāo)通常是大型測(cè)試系統(tǒng)位于平行光管焦平面的小模塊。無(wú)源靶標(biāo)的工作不需要電力供應(yīng)。

版本型號(hào):

FUT以下列不同標(biāo)準(zhǔn)尺寸的形式提供:FUT118:輻射源尺寸1100x800mm(11x8個(gè)100mm大小正方形區(qū)域);FUT1511:輻射源尺寸1500x1100mm(15x11個(gè)100mm大小正方形區(qū)域);FUT2020:輻射源尺寸1900x1900mm(19x19個(gè)100mm大小正方形區(qū)域);FUT2216:輻射源尺寸2200x1600mm(22x16個(gè)100mm大小正方形區(qū)域)。還可以定制化交付不同尺寸和圖案的定制化FUT靶標(biāo)。 上海光電測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格

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